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保護リレーのテスト
Created with Pixso. 反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します

反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します

ブランド名: KINGSINE
モデル番号: K3163i
MOQ: 1 セット
価格: 交渉可能
配達時間: 15 営業日
支払条件: 前もって T/T、L/C
詳細情報
起源の場所:
中国
証明:
ISO9001,CE
体重:
18kg
寸法 (W x D x H):
468×375×164ミリ
供給の能力:
50 sets/M
ハイライト:

切断防止検出トランスデューサー校正テスト

,

トランスデューサー校正テスト K3163i

,

自動トランスデューサー校正テスト

製品説明

K31シリーズがテストできるもの

 

ポイント ANSI® 番号
IEC61850 数値IEDリレー&マージユニット  
距離保護リレー 21
シンクロニズム・チェック・リレー 25
低電圧リレー 27
方向電源リレー 32
低電流または低電力のリレー 37
負の配列の超電流リレー 46
超電流/地故障リレー 50
逆時間超電流/地故障リレー 51
パワーファクターリレー 55
超電圧リレー 59
電圧・電流バランスリレー 60
方向性超電流リレー 67
方向性地故障リレー 67N
直流超電流リレー 76
段階角度測定またはステップ外保護リレー 78
自動再閉装置 79
周波数リレー 81
モーターの過負荷防止リレー 86
差点保護リレー 87
方向電圧リレー 91
電圧と電力の方向レレー 92
トリッピングリレー 94
電圧調節リレー  
超阻力リレー,Z>  
低阻力リレー,Z  
遅延リレー  

 

特徴

  • 10チャネル (6x32Aと4x310V) 出力,各出力チャネルは独立し,同期に大きさ,相角,周波数値を制御し,DCを注入することができる.ACシナス波と最大20xハーモニック.
  • バッテリーシミュレーター DC 0-350V 最大140ワット
  • 低レベルチャネルは最大8Vac/10Vdcまで出力します.
  • 0-600V / 0-5A AC/DC 測定 クラス 0.1
  • 各レレの試験用グラフィック試験モジュールと模板
  • 手動モードでの速回線試験装置
  • ショット/検索/チェック,ポイント&クリックテスト
  • RIO/XRIO 輸入輸出施設
  • 障害テストに切り替え (SOTF)
  • 動的試験のための電源システムモデル
  • 組み込みGPSとIRIG-B同期端から端へのテスト
  • オンラインベクトル表示
  • 自動テストの結果は
  • 試験報告の自動作成
  • 切断防止検出,誤った配線接続アラームと自己保護,過負荷と過熱保護

 

反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します 0

 

標準および多機能の単相および三相電動電源変換器の試験用トランスデューサーモジュールの使用

 

反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します 1

Fig トランスデューサー カリブレーション ソフトウェア インターフェース

 

パラメータ設定

トランスデューサーのプロパティ設定,パラメータ/テストオブジェクトを選択,下図を参照               反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します 2

 

Fig 試験対象

トランスデューサーのプロパティ設定インターフェイスに入力し,試験されたトランスデューサーの製造者パラメータに従って相対設定を設定します.

反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します 3

Fig パラメータ設定

反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します 4

Fig パラメータ設定

 

トランスデューサーのテストビューで,設定選択を入力し,テストされたトランスデューサーの出力タイプを通じて測定量を選択します.テスト方法はテストによって自由に選択できます.

試験手順

1) テスト接続

                                                    反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します 5

Fig テスト接続

試験接続の説明のために,他のタイプのトランスデューサー接続は,製造者の要求を標準とみなす.

2) 試験手順

完全にテストパラメータと接続を設定するために,上記の要求に従って,テストポイントを追加し,テストを開始します. 試験装置はサンプル値に応じて自動的にエラーを計算します.

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反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します

ブランド名: KINGSINE
モデル番号: K3163i
MOQ: 1 セット
価格: 交渉可能
支払条件: 前もって T/T、L/C
詳細情報
起源の場所:
中国
ブランド名:
KINGSINE
証明:
ISO9001,CE
モデル番号:
K3163i
体重:
18kg
寸法 (W x D x H):
468×375×164ミリ
最小注文数量:
1 セット
価格:
交渉可能
受渡し時間:
15 営業日
支払条件:
前もって T/T、L/C
供給の能力:
50 sets/M
ハイライト:

切断防止検出トランスデューサー校正テスト

,

トランスデューサー校正テスト K3163i

,

自動トランスデューサー校正テスト

製品説明

K31シリーズがテストできるもの

 

ポイント ANSI® 番号
IEC61850 数値IEDリレー&マージユニット  
距離保護リレー 21
シンクロニズム・チェック・リレー 25
低電圧リレー 27
方向電源リレー 32
低電流または低電力のリレー 37
負の配列の超電流リレー 46
超電流/地故障リレー 50
逆時間超電流/地故障リレー 51
パワーファクターリレー 55
超電圧リレー 59
電圧・電流バランスリレー 60
方向性超電流リレー 67
方向性地故障リレー 67N
直流超電流リレー 76
段階角度測定またはステップ外保護リレー 78
自動再閉装置 79
周波数リレー 81
モーターの過負荷防止リレー 86
差点保護リレー 87
方向電圧リレー 91
電圧と電力の方向レレー 92
トリッピングリレー 94
電圧調節リレー  
超阻力リレー,Z>  
低阻力リレー,Z  
遅延リレー  

 

特徴

  • 10チャネル (6x32Aと4x310V) 出力,各出力チャネルは独立し,同期に大きさ,相角,周波数値を制御し,DCを注入することができる.ACシナス波と最大20xハーモニック.
  • バッテリーシミュレーター DC 0-350V 最大140ワット
  • 低レベルチャネルは最大8Vac/10Vdcまで出力します.
  • 0-600V / 0-5A AC/DC 測定 クラス 0.1
  • 各レレの試験用グラフィック試験モジュールと模板
  • 手動モードでの速回線試験装置
  • ショット/検索/チェック,ポイント&クリックテスト
  • RIO/XRIO 輸入輸出施設
  • 障害テストに切り替え (SOTF)
  • 動的試験のための電源システムモデル
  • 組み込みGPSとIRIG-B同期端から端へのテスト
  • オンラインベクトル表示
  • 自動テストの結果は
  • 試験報告の自動作成
  • 切断防止検出,誤った配線接続アラームと自己保護,過負荷と過熱保護

 

反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します 0

 

標準および多機能の単相および三相電動電源変換器の試験用トランスデューサーモジュールの使用

 

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Fig トランスデューサー カリブレーション ソフトウェア インターフェース

 

パラメータ設定

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Fig 試験対象

トランスデューサーのプロパティ設定インターフェイスに入力し,試験されたトランスデューサーの製造者パラメータに従って相対設定を設定します.

反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します 3

Fig パラメータ設定

反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します 4

Fig パラメータ設定

 

トランスデューサーのテストビューで,設定選択を入力し,テストされたトランスデューサーの出力タイプを通じて測定量を選択します.テスト方法はテストによって自由に選択できます.

試験手順

1) テスト接続

                                                    反切抜きは仮定するためにトランスデューサーの口径測定のテスターK3163iの自動試験結果を検出します 5

Fig テスト接続

試験接続の説明のために,他のタイプのトランスデューサー接続は,製造者の要求を標準とみなす.

2) 試験手順

完全にテストパラメータと接続を設定するために,上記の要求に従って,テストポイントを追加し,テストを開始します. 試験装置はサンプル値に応じて自動的にエラーを計算します.